微电子可靠性

期刊简介

《微电子可靠性》致力于传播微电子设备、电路和系统可靠性的最新研究成果和相关信息，涵盖材料、工艺和制造、设计、测试和操作等各个方面。该期刊涵盖以下主题：测量、理解和分析；评估和预测；建模和仿真；方法和缓解。将可靠性与微电子工程其他重要领域（如设计、制造、集成、测试和现场操作）相结合的论文也将受到欢迎，并且特别鼓励报告该领域和特定应用领域案例研究的实践论文。

大多数被接受的论文将以研究论文的形式发表，描述重大进展和已完成的工作。回顾普遍感兴趣的重要发展主题的论文可能会被接受作为评论论文发表。更初步的紧急通讯和关于当前感兴趣的已完成实践工作的简短报告可能会被考虑作为研究笔记发表。所有投稿均需经过该领域顶尖专家的同行评审。

微电子可靠性创刊于1964年，由Elsevier Ltd出版社出版。其研究的主题领域包括但不限于工程技术-工程：电子与电气，是一本在工程技术领域具有重要影响力的国际期刊。该期刊涵盖了工程技术的多个子领域，旨在全面理解和解决工程技术问题。

根据最新的数据，微电子可靠性的影响因子为2.5，CiteScore为4.5，h-index为80，SJR为0.464，SNIP为1.024，中科院分区为4区，这些指标均显示了该期刊在工程技术领域的优秀地位。

该刊以English作为出版语言。对于English非母语的作者，期刊建议使用语言编辑服务，以确保文稿的语法和拼写错误得到纠正，并符合科学English的标准。如果想实现快速顺利的投稿发表，建议您联系本站的客服团队，将为您提供专业的选刊建议，并在整个投稿过程中提供细致的指导。